レゾナンス 方法 の 試験 の 進展
共振試験法は、主にアンテナ基板の安定性を評価する際に、インピーダンス試験法における寄生容量変化のリアルタイムセンシングの限界に対処するために開発されました。近接界試験アンテナにコンデンサを組み込むことで、共振点を約13.56MHzに調整します。試験対象の基板を試験アンテナの表面に配置すると、動作点の近くで共振が発生します。ネットワークアナライザをカップリングコイルに接続して共振点を記録し、そのオフセット状態を判断することで、基板の安定性を評価します。
アンテナインダクタンスの変化のみを反映するインピーダンス試験法と比較して、共振試験法は、基板の統合によって引き起こされる寄生容量の変化を顕著にするだけでなく、近接界アンテナとその整合回路との間に共振ネットワークを形成し、アンテナ基板の品質評価を可能にします。したがって、共振試験法は、インダクタンスとキャパシタンスの両方のパラメータの変化を反映できる包括的なアプローチです。
試験結果は、試験アンテナの共振周波数が基板の透磁率の変化に対して線形オフセットを示すことを示しており、このような透磁率の変化は、カップリングアンテナのS11パラメータの変化を通じて直感的に検出できます。さらに、共振点のピーク差は約50Hzであり、これは工業生産における中心周波数オフセットの制御範囲内にあり、比較的高い安定性基準を表しています。
