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January 25, 2026

후막 시험 기술의 발전

후막 시험 기술의 발전


현재 투명성 테스트에서 재료에 대한 엄격한 차원 요구 사항을 해결하기 위해이 연구는 인덕턴스 측정 방법의 원칙을 적용함으로써 투명성 테스트 장비를 개선합니다.0.1GHz~0.6GHz의 주파수 범위 내에서 두꺼운 필름 물질을 테스트하기 위한 특수 장착 장치가 개발되었으며, ±20% 내에서 테스트 오류가 제어됩니다.

인덕턴스 측정 방법에 기반한 널리 사용되는 시험 장치는 단회전에서 단회전 인덕터로 작동한다는 원칙에 따라 작동합니다.테스트 중인 재료의 투과성은 물질을 삽입하기 전과 후에 장착 장치의 인덕턴스 변화를 측정함으로써 도출됩니다.그러나 이 방법은 시험 물질이 타로이드 모양이 되어야 하며, 작은 크기의 물질의 낮은 주파수 투명성을 측정하는 것은 불가능합니다.

펌프 설계 원칙에서 출발하여 시뮬레이션과 실제 측정을 통해 부착 된 경험적 공식을 얻습니다.두꺼운 필름 물질에 적합한 투명성 시험 장치는 길이를 조정함으로써 개선됩니다., 폭, 그리고 스트립 라인의 금속 선수의 높이를 0.1GHz ~ 1GHz 범위에서 빈 고정 장치의 S11 매개 변수 그래프 S11 값은 공명점에서 멀리 있음을 보여줍니다.그 성능을 확인하기 위해 실제 테스트가 수행되었습니다..

그림 4에서 보듯이, a comparison between the calculated results from the empirical formula and the actual measured data of the real and imaginary parts of permeability for samples with different thicknesses reveals that the absolute error of the imaginary part of permeability is within 20% except for a few frequency points통통성의 실제 및 가상의 부분의 포괄적 인 결과를 기반으로, 이 방법은 0.1GHz ~ 0.6GHz의 주파수 범위에서 통통성의 측정에 적용됩니다.