厚膜試験技術の進歩
材料に対する厳格な寸法要求を 満たすため,現在の透透性試験ではこの試験では,誘導性測定方法の原理を適用することで,透透性試験装置を改良する.0.1GHz~0.6GHzの周波数範囲内の厚膜材料を試験するための特殊装置が開発され,試験誤差は ±20%以内に制御される.
誘導度測定法に基づく広く使用されている試験装置は,短回路の場合,単回転誘導器として機能する原則に基づいて動作する.試験対象の材料の透気性は,材料を挿入する前と後に固定装置の誘導力の変化を測定することによって得られますしかし,この方法では,試験材料が小型の材料の低周波透通性を測定することが不可能であるため,トロイド形である必要があります.
装置の設計原理からスタートし,シミュレーションと実際の測定により,フィットした経験的式が得られる.厚いフィルム材料に適した透気性試験装置は,長さを調整することで改善されます.0.1GHz~1GHz範囲の空の固定装置のS11パラメータグラフは,S11値が共鳴点から遠くにあることを示しています.その性能を検証するために実用的な試験が行われました.
図4に示されているように, a comparison between the calculated results from the empirical formula and the actual measured data of the real and imaginary parts of permeability for samples with different thicknesses reveals that the absolute error of the imaginary part of permeability is within 20% except for a few frequency points透透性の実数と想像的部分の総合的な結果に基づいて,この方法は0.1GHz~0.6GHzの周波数範囲での透透性測定に適用されます.
